（名稱高低溫箱）

　　參數(shù)規(guī)格

　　●?試樣限制：試驗(yàn)設(shè)備；

　　●?禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；

　　●?腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存?

　　●?生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存?

　　●?強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存?

　　●?放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存?

　　●?劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存?

　　●?試驗(yàn)或儲(chǔ)存過程中可能產(chǎn)生易燃、爆炸、揮發(fā)、劇毒、腐蝕及放射性物質(zhì)的試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存?

　　●?標(biāo)準(zhǔn)型恒溫恒濕試驗(yàn)箱容積、尺寸和重量:

　　●?標(biāo)稱內(nèi)容積：80L/100L/150L/225L/408L/800L/1000L

　　●?內(nèi)箱尺寸W×H×D(cm):80L=40×50×40?

　　●?外箱尺寸W×H×D(cm):80L=65×173×130?

　　●?重量:約200KG以內(nèi)

　　性能參數(shù)

　　1.測(cè)試環(huán)境條件：環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下?

　　2.測(cè)試方法：

　　GB/T-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

　　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

　　3.溫度范圍：-20℃~+150℃/-40℃~+150℃/-70℃～+150℃?

　　4.控制精度：a.溫度：±0.2℃（控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差）b.濕度：±2.5%（控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差）?

　　5.溫度波動(dòng)度：≤0.5℃（溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測(cè)最高溫度和最低溫度之差的一半）?

　　6.溫度誤差：≤±1℃（工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點(diǎn)實(shí)測(cè)的平均溫度）?

　　7.溫度均勻度：≤2.0℃（溫度均勻度為每次測(cè)試中實(shí)測(cè)最高溫度和最低溫度之差的算術(shù)平均值）?

　　8.升溫時(shí)間：常溫~150℃≤20min?

　　9.降溫時(shí)間：常溫~－40℃≤75min?

　　10.內(nèi)外箱材質(zhì)：內(nèi)箱SUS304不銹鋼，外箱冷軋鋼板靜電噴涂

　　11.控制方法/控制器：高精度微電腦控制器，7”TFT真彩LED液晶觸摸屏

　　12.壓縮機(jī)：全密式原裝法國壓縮機(jī)